AI-GDD
Generalized Defect Detection
AI-GDD는 최첨단 VLM(Vision Language Model) 기술을 기반으로, 인간의 언어직 이해와 시각적 인지 능력을 결합하여 제조 현장의 이상 탐지 패러다임을 재정의합니다. 단일화된 AI 모델을 통해 거의 모든 종류의 제품과 결함을 실시간으로, 그리고 최소한의 데이터만으로 탐지할 수 있는 범용성과 강건성을 제공합니다.
일부 복잡하거나 미묘한 결함에 대해 단 몇 개의 예시 이미지만으로 모델 성능을 특정 도메인에 맞게 극대화하는 Few-Shot 학습 적용이 가능합니다. 더 나아가 신제품 라인업을 위한 AI 검사 시스템 배포 기간을 단 며칠, 혹은 몇 시간으로 획기적으로 단축합니다.
신규 제품 및 결함 유형 대응
기존 딥러닝 비전 검사는 새로운 제품이나 새로운 결함 유형 등장 시 전체 데이터 재구축과 재학습이 필요해 대응이 매우 느리고 유연성이 부족합니다.
- AI-GDD의 few-shot 학습을 적용하여 신규 결함 대응 시간을 대폭 단축
- 대량 데이터 수집 없이도 즉시 탐지 모델 업데이트 가능
- 재학습 과정이 길어 발생하는 탐지 불가 기간을 제거
- 제품·결함 변화에 대한 빠르고 유연한 현장 대응 구조 확보
효율적인 예측 정비
한 번 학습된 모델이 다양한 제품군·검사 조건에서도 높은 일반화 성능을 유지하기 때문에 새로운 데이터가 들어올 때마다 재학습이 거의 필요하지 않습니다.
- 다양한 제품·조건에서도 동일 모델을 유지해 반복적 재학습 절차 제거
- 규칙 기반·전통 ML 방식에서 필요했던 파라미터 조정 작업을 최소화
- 모델 갱신 빈도를 줄여 유지 관리 비용과 운영 복잡도를 감소
- 지속적인 데이터 변화에도 안정적인 검사 품질 확보